SiC laganum 4H-N 6H-N HPSI 4H-semi 6H semi 4H-P 6H-P 3C genus 2inch 3inch 4inch 6inch 8inch
Proprietates
4H-N et 6H-N (Lamellae SiC typi N)
Applicatio:Praecipue in electronica potentiae, optoelectronica, et applicationibus altae temperaturae adhibetur.
Diametri Intervallum:50.8 mm ad 200 mm.
Crassitudo:350 μm ± 25 μm, cum crassitudinibus optionalibus 500 μm ± 25 μm.
Resistivitas:Typus N 4H/6H-P: ≤ 0.1 Ω·cm (gradus Z), ≤ 0.3 Ω·cm (gradus P); Typus N 3C-N: ≤ 0.8 mΩ·cm (gradus Z), ≤ 1 mΩ·cm (gradus P).
Asperitas:Ra ≤ 0.2 nm (CMP vel MP).
Densitas Microtubuli (DMP):< 1 singula/cm².
TTV: ≤ 10 μm pro omnibus diametris.
Deformatio: ≤ 30 μm (≤ 45 μm pro laminis octo unciarum).
Exclusio Marginis:3 mm ad 6 mm pro genere lamellae.
Involucrum:Cassetta multi-gravatarum vel vas singulare gravātum.
Aliae magnitudines praesto sunt 3 pollices, 4 pollices, 6 pollices, 8 pollices.
HPSI (Laminae SiC Semi-Insulantes Altae Puritatis)
Applicatio:Adhibetur pro instrumentis quae magnam resistentiam et stabilem functionem requirunt, ut instrumenta RF, applicationes photonicae, et sensoria.
Diametri Intervallum:50.8 mm ad 200 mm.
Crassitudo:Crassitudo ordinaria 350 μm ± 25 μm cum optionibus pro laminis crassioribus usque ad 500 μm.
Asperitas:Ra ≤ 0.2 nm.
Densitas Microtubuli (DMP): ≤ 1 singula/cm².
Resistivitas:Alta resistentia, typice in applicationibus semi-isolantibus adhibita.
Deformatio: ≤ 30 μm (pro magnitudinibus minoribus), ≤ 45 μm pro diametris maioribus.
TTV: ≤ 10 μm.
Aliae magnitudines praesto sunt 3 pollices, 4 pollices, 6 pollices, 8 pollices.
4H-P...6H-P&3C Lamella SiC(Lamellae SiC generis P)
Applicatio:Praecipue ad instrumenta potentiae et altae frequentiae.
Diametri Intervallum:50.8 mm ad 200 mm.
Crassitudo:350 μm ± 25 μm vel optiones secundum desiderium clientium.
Resistivitas:Typus P 4H/6H-P: ≤ 0.1 Ω·cm (gradus Z), ≤ 0.3 Ω·cm (gradus P).
Asperitas:Ra ≤ 0.2 nm (CMP vel MP).
Densitas Microtubuli (DMP):< 1 singula/cm².
TTV: ≤ 10 μm.
Exclusio Marginis:3 mm ad 6 mm.
Deformatio: ≤ 30 μm pro magnitudinibus minoribus, ≤ 45 μm pro magnitudinibus maioribus.
Aliae magnitudines praesto sunt 3 pollices, 4 pollices, 6 pollices.5×5 10×10
Tabula Parametrorum Datorum Partialium
Possessio | Duae unciae | Tres pollices | quattuor unciae | Sex pollices | Octo pollices | |||
Typus | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI/ | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI//4H/6H-P/3C; | 4H-N/HPSI/4H-SEMI | |||
Diameter | 50.8 ± 0.3 mm | 76.2±0.3mm | 100±0.3mm | 150±0.3mm | 200 ± 0.3 mm | |||
Crassitudo | 330 ± 25 µm | 350 ± 25 µm | 350 ± 25 µm | 350 ± 25 µm | 350 ± 25 µm | |||
350±25µm; | 500±25um | 500±25um | 500±25um | 500±25um | ||||
vel ad mensuram | vel ad mensuram | vel ad mensuram | vel ad mensuram | vel ad mensuram | ||||
Asperitas | Ra ≤ 0.2nm | Ra ≤ 0.2nm | Ra ≤ 0.2nm | Ra ≤ 0.2nm | Ra ≤ 0.2nm | |||
Stamina | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤ 30um | ≤45um | |||
TTV | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | ≤ 10um | |||
Scalpere/Fodere | CMP/MP | |||||||
MPD | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | <1ea/cm-2 | |||
Forma | Rotundum, planum 16mm; longitudinis 22mm; longitudinis 30/32.5mm; longitudinis 47.5mm; incisura; incisura; | |||||||
Lima | 45°, Specificatione SEMI; Forma C | |||||||
Gradus | Gradus productionis pro MOS&SBD; Gradus investigationis; Gradus fictitium, Gradus crustulae seminalis. | |||||||
Observationes | Diameter, Crassitudo, Orientatio, specificationes supra ad petitionem tuam aptari possunt. |
Applicationes
·Electronica Potentiae
Lamellae SiC typi N necessariae sunt in instrumentis electronicis potentiae propter facultatem tractandi tensionem magnam et currentem magnum. Saepe adhibentur in convertoribus potentiae, inversoribus, et impulsoribus motorum pro industriis sicut energia renovabilis, vehiculis electricis, et automatione industriali.
· Optoelectronica
Materiae SiC generis N, praesertim ad usus optoelectronicos, in instrumentis ut diodis lucis emittentibus (LED) et diodis laser adhibentur. Magna conductivitas thermalis et lata lacuna frequentiae eas aptas reddunt ad instrumenta optoelectronica summae efficaciae.
·Applicationes Altae Temperaturae
Lamellae SiC 4H-N 6H-N bene aptae sunt ad ambitus altae temperaturae, ut in sensoribus et instrumentis potentiae in applicationibus aëronauticis, autocineticis, et industrialibus adhibitis, ubi dissipatio caloris et stabilitas ad temperaturas elevatas criticae sunt.
·Instrumenta RF
Lamellae SiC 4H-N 6H-N in instrumentis radiofrequentiae (RF) quae in intervallis altae frequentiae operantur adhibentur. In systematibus communicationis, technologia radarica, et communicationibus satellitum adhibentur, ubi alta efficientia potentiae et effectus requiruntur.
·Applicationes Photonicae
In photonicis, crustae SiC in apparatibus ut photodetectores et modulatores adhibentur. Proprietates singulares materiae permittunt ut efficax sit in generatione, modulatione, et detectione lucis in systematibus communicationis opticae et apparatibus imaginandis.
·Sensoria
Lamellae SiC in variis applicationibus sensorum adhibentur, praesertim in asperis condicionibus ubi aliae materiae deficere possunt. Hae includunt sensores temperaturae, pressionis, et chemici, qui essentiales sunt in campis ut autocinetica, petrolea et gasia, et monitoria environmentalia.
·Systema Impulsionis Vehiculorum Electricorum
Technologia SiC magnum momentum in vehiculis electricis agit, efficientiam et effectum systematum impulsoriorum augendo. Cum semiconductoribus potentiae SiC, vehicula electrica meliorem vitam batteriae, celeriores tempora impletionis, et maiorem efficientiam energiae consequi possunt.
·Sensoria Provectiora et Conversores Photonici
In technologia sensoriarum provectis, crustae SiC ad sensoria altae praecisionis creanda adhibentur, quae ad usus in robotica, instrumentis medicis, et monitorio ambitus pertinent. In convertoribus photonicis, proprietates SiC ad efficientem conversionem energiae electricae in signa optica efficiendam adhibentur, quod in telecommunicationibus et infrastructura interretiali celerrima maximi momenti est.
Quaestiones et Responsiones
QQuid est 4H in 4H SiC?
A"4H" in 4H SiC structuram crystallinam carburi silicii refert, nominatim formam hexagonalem quattuor stratis praeditam (H). Littera "H" genus polytypi hexagonalis indicat, eum a ceteris polytypis SiC sicut 6H vel 3C distinguens.
QQuae est conductivitas thermalis 4H-SiC?
AConductivitas thermalis 4H-SiC (Carbidi Silicii) est circiter 490-500 W/m·K temperatura ambiente. Haec alta conductivitas thermalis id aptum facit ad usus in electronicis potentiae et ambitus altae temperaturae, ubi dissipatio caloris efficax est crucialis.