100mm 4inch GaN laganum Sapphiri epi- laganum Gallium nitridum epitaxiale laganum

Brevis descriptio:

Gallium nitride epitaxiale scheda typica est repraesentativum tertiae generationis latae cohortis interstitium semiconductoris epitaxialis materiae, quae proprietates habet excellentes quales hiatus cohortis latae, altum naufragii agri robur, altum conductivity scelerisque, satietatem electronicorum alta velocitas summa, resistentia fortis radialis et alta chemicae stabilitas.


Product Detail

Product Tags

Processus incrementi GaN blue LED quantum bene structurae. Detailed processus fluxus talis est

(1) Caliditas caliditas coquens, sapphirus substratus primum calefit ad 1050℃ in atmosphaera hydrogenii, propositum est superficiem subiectam mundare;

(2) Cum temperaturae substratae guttae ad 510℃, humili temperatura GaN/AlN quiddam iacuit cum crassitudine 30nm in superficie sapphiri distent;

(3) Temperature ad 10 ortum, reactionem gas ammoniaci, trimethylgallii et silani injiciuntur, respective rate fluxum respondentem moderari, et silicon-doped N-typus GaN 4um crassitudinis creverit;

(4) Gas trimethyl aluminii et trimethyl galli reactionem adhibitum est ad continentes cum crassitudine 0,15um N-typo-silicon-doped praeparandas;

(5) 50nm Zn-doped InGaN praeparatum est trimethylgallium, trimethylindium, diethylzincum et ammoniacum temperatura 8O0℃ et diversae rates regentes respective;

(6) Temperatura aucta ad 1020℃, trimethylaluminum, trimethylgallium et magnesium bis (cyclopentadienyl) injectae sunt ad parandum 0.15um Mg doped P-type AlGaN et 0.5um Mg doped P-type G glucosi sanguinis;

(7) Qualitas P-typus GaN Sibuyan cinematographicum nactus est per furnum in atmosphaera nitrogenii ad 700℃;

(8) Etching super P-type G stasidis superficiei ad superficiem N-typum G stasin revelandum;

(9) Evaporatio laminarum Ni/Au contactuum in superficie p-GaNI, evaporatio /Al contactuum laminarum in superficie ll-GaN ad electrodes formandas.

Specifications

Item

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensiones

e 100 mm ± 0.1 mm

Crassitudo

4.5±0.5 um potest nativus

propensio

C-planum(0001) ± 0.5°

Conductio Type

N-genus (Undoped)

N-type (Si-doped)

Resistentia (300K)

< 0.5 Q・cm

< 0.05 Q・cm

Carrier Concentration

< 5x1017cm-3

> 1x1018cm-3

Mobilitas

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

Luxatio densitas

Minus quam 5x108cm-2(Per FWHMs de XRD)

Substratum compages

GaN on Sapphirus (Standard: SSP Option: DSP)

Utilis Superficies

> 90%

sarcina

Packaged in genere 100 ambitus cubiculi mundis, in reta 25pcs vel vasis lagani unius, sub atmosphaera nitrogenis.

Detailed Diagram

WechatIMG540_
WechatIMG540_
vav

  • Previous:
  • Next:

  • Epistulam tuam hic scribe et mitte nobis