50.8mm 2inch GaN in sapphiro laganum Epi-
Applicatio galli nitridis schedae epitaxialis gaN
Ex gallium nitride exercendo, gallium nitride epitaxiale astulae maxime idoneae sunt ad altam virtutem, altam frequentiam, et applicationes humilium intentionum.
Repetitur:
1) High bandgap: High bandgap amplio intentione campestri gallium machinis nitride et altiorem potentiam quam machinis gallium arsenidis emittere potest, quae maxime apta est ad 5G communicationis basium stationes, terunt militares et alios agros;
2) Maximum conversionem efficientiam: in-resistentia gallium nitridum mutandi potentiae electronicarum machinarum est 3 ordines magnitudinis inferioris quam machinarum Pii, quae signanter minuere potest detrimentum in-victum;
3) Princeps scelerisque conductivity: princeps scelerisque conductivity gallium nitride facit ut excellentes caloris dissipatio- nem habeat, apta ad productionem virtutis altae, summus temperatus et ceterae machinae regiones;
4) Naufragii campi electrici virium: Quamvis naufragii electrici roboris gallium nitride prope ad nitridem siliconis sit, ob processum semiconductorem, materias cancellos mismatch et alia factorum, voltatio tolerantiae galli nitride machinis fere 1000V et fere. tutus usus intentione plerumque infra 650V.
Item | GaN-TCU-C50 | GaN-TCN-C50 | GaN-TCP-C50 |
Dimensiones | e 50.8mm ± 0.1mm | ||
Crassitudo | 4.5±0.5 um | 4.5±0.5um | |
propensio | C-planum(0001) ± 0.5° | ||
Conductio Type | N-genus (Undoped) | N-type (Si-doped) | P-type (Mg-doped) |
Resistentia (3O0K) | < 0.5 Q・cm | < 0.05 Q・cm | ~ 10 Q・cm |
Carrier Concentration | < 5x1017cm-3 | > 1x1018cm-3 | > 6x1016 cm-3 |
Mobilitas | ~ 300 cm2/Vs | ~ 200 cm2/Vs | ~ 10 cm2/Vs |
Luxatio densitas | Minus quam 5x108cm-2(Per FWHMs de XRD) | ||
Substratum compages | GaN on Sapphirus (Standard: SSP Option: DSP) | ||
Utilis Superficies | > 90% | ||
sarcina | Packaged in genere 100 ambitus cubiculi mundis, in reta 25pcs vel vasis lagani unius, sub atmosphaera nitrogenis. |
* Aliae crassities potest nativus